JTAG ratkaisee IC-testauksen pulmat

JTAG ratkaisee IC-testauksen pulmat

Article

Goossens, Paul

Published in: Prosessori 2003 : 3, s.92-97

Saved in:

Language

Finnish

Item Description

Elektroniikkalaitteiden testausstandardi IEEE 1149.1 eli JTAG.
Kirjoitukseen liittyy Elektor-lehden sovelluskytkentä "JTAG-rinnakkaisliitäntäkortti".

Series

Sovellukset, 202

Classification

Electronics (ykl 62.67)

Subjects/keywords

elektroniikkalaitteet

mikropiirit

testauslaitteet

testausmenetelmät

rakennusohjeet

elektronikapparater

mikrokretsar

testutrustning

testmetoder

byggnadsinstruktioner