Pienempiä ja tarkempia antureita : MEMS-komponentteja metrologiaan
Finna-arvio
Pienempiä ja tarkempia antureita : MEMS-komponentteja metrologiaan
Tallennettuna:
Kieli |
suomi |
---|---|
Huomautukset |
Erikoisnumero, marraskuu 2002. IST/ELMO-teknologiaohjelmiin kuuluva EMMA-tutkimus (ElectroMechanical Microcomponents for Precision Applications). |
Sarja | Finnish R&D |
Luokitus | |
Aiheet/asiasanat | |
Lisätiedot | Anu Kärkkäinen, Jukka Kyynäräinen, Aarne Oja ja Heikki Seppä |