Tarkkuutta spektrin mittauksiin : analysaattorin laatu ei yksin riitä

Tarkkuutta spektrin mittauksiin : analysaattorin laatu ei yksin riitä

Artikkeli

Saarinen, Pertti

Julkaisussa: Prosessori 2007 : 1, s.40-42

Tallennettuna:

Kieli

suomi

Luokitus

ykl 62.7
Säätö- ja systeemitekniikka. Teollinen automaatio (ykl 61.6)

Aiheet/asiasanat

spektrometria

sähkömagneettinen säteily

analyysilaitteet

mittauslaitteet

signaalinkäsittely

ominaisuudet

tarkkuus

elektroniikka

käyttö

spektrometri

elektromagnetisk strålning

analysapparatur

mätinstrument

signalbehandling

egenskaper

precision

elektronik

användning

spektrianalysaattorit

Saatavuustiedot

Henkilökuntanäyttö