Tarkkuutta spektrin mittauksiin : analysaattorin laatu ei yksin riitä

Tarkkuutta spektrin mittauksiin : analysaattorin laatu ei yksin riitä

Article

Saarinen, Pertti

Published in: Prosessori 2007 : 1, s.40-42

Saved in:

Language

Finnish

Classification

ykl 62.7
Control and systems engineering. Industrial automation (ykl 61.6)

Subjects/keywords

spektrometria

sähkömagneettinen säteily

analyysilaitteet

mittauslaitteet

signaalinkäsittely

ominaisuudet

tarkkuus

elektroniikka

käyttö

spektrometri

elektromagnetisk strålning

analysapparatur

mätinstrument

signalbehandling

egenskaper

precision

elektronik

användning

spektrianalysaattorit