Edellinen kuva
Lähennä
Loitonna
Keskitä
Seuraava kuva
Siirry sisältöön
⚠️
Kansainvälisten e-aineistojen haku vaatii toistaiseksi kirjautumaan, jotta voit tehdä hakuja. Pahoittelemme ylimääräistä vaivaa.
⚠️
Etusivu
E-aineistot
Kuvataide
Liiketoiminta
Logistiikka ja meriteknologia
Sosiaaliala
Teknologia
Terveys
Verkkokoulutuspalvelut
E-kirjat
E-lehdet
Kansainväliset e-lehdet
Ohje
Ohje
Kirjautuminen ja oma tili
Verkkomaksut
Ellibs-verkkokirjat
Thorium Reader
Adobe Digital Editions
Terveysportti ja Oppiportti
SFS Online
Lähteiden merkintä ja viitteidenhallinta
Avainsanat ja asiasanat
Linkitä oikein
Saavutettavuus
Verkkoaineistoihin pääsy
Evästeiden poistaminen
Haku
Tarkennettu haku
Kansainvälisten e-aineistojen haku
Hae keskitetystä elektronisten aineistojen indeksistä, joka sisältää artikkeleiden kokotekstejä, viitetietokantoja ja e-kirjoja.
Tarkennettu kansainvälisten e-aineistojen haku
Selaa luetteloa
Selaa avainsanojen, tekijän, aiheen, genren, alueen tai aikakauden mukaan.
Selaa tietokantoja
Hakuhistoria
Istuntokohtainen hakuhistoriasi. Kirjautumalla voit tallentaa hakusi.
Kirjastoinfo
Kirjastopalvelut uudelle opiskelijalle
Kirjastopalvelut opiskelijalle
Kirjastopalvelut henkilökunnalle
Kirjastopalvelut vierailijalle
Kirjastokortti ja asiakkuus
Lainaaminen
Kaukopalvelu kirjastoille
Hinnasto
INFOtelakka auttaa tiedonhaussa
Kirjasto-Moodle
SAMK-ID-kirjautuminen
Ryhmätilan varaaminen
Opinnäytetyön julkaiseminen
Theseus-tuki: theseus@samk.fi
Yhteystiedot
0
tietuetta
Ota yhteyttä
Suomi
Suomi
English
Kirjaudu
Haku
Hae
Kaikki osumat
Kaikki osumat
Otsikko
Tekijä
Aihe/asiasana
Hae
Tarkennettu haku
Statistics for marked point pa...
Lisää suosikkeihin
Lähetä sähköpostilla
Vie viite
Vienti: RefWorks
Vienti: EndNoteWeb
Vienti: EndNote
Vienti: RIS
Viitetiedot
Tulosta
QR-koodi
Lisää koriin
Lisää koriin
Poista korista
Poista korista
Statistics for marked point patterns
1
Edelliset kuvat
Seuraavat kuvat
lisää
vähemmän
Kuvaan voi liittyä käytön rajoituksia.
Katso käyttöehdot
Finna-arvio
Lisää ensimmäinen arvostelu. Kaikki arvostelut ovat julkisia.
Statistics for marked point patterns
DESC
SOURCE
Artikkeli
Penttinen, Antti
,
kirjoittaja
Julkaisussa:
Suomen tilastoseuran vuosikirja
2006, s. 70-91
Tallennettuna:
Kieli
englanti
Tiivistelmän kieli
englanti
Aiheet/asiasanat
tilastotiede
tilastolliset mallit
paikkatietojärjestelmät
stokastiset prosessit
statistik (vetenskaper)
statistiska modeller
geografiska informationssystem
stokastiska processer
pistekuvioanalyysi
Näytä kaikki tiedot
Näytä vähemmän
Saatavuustiedot
Kommentit
(
0
)
Henkilökuntanäyttö
Saatavuustiedot
Kommentit (
0
)
Henkilökuntanäyttö
Tämän aineiston tarjoaa
Kansalliskirjasto - Arto
Kysymyksiä tai palautetta aineistosta?
Ota yhteyttä
Tämän aineiston tarjoaa
Kansalliskirjasto - Arto
Kysymyksiä tai palautetta aineistosta?
Ota yhteyttä
Lisää suosikkeihin
Share
Whatsapp
Lähetä sähköpostilla
Vie viite
Vienti: RefWorks
Vienti: EndNoteWeb
Vienti: EndNote
Vienti: RIS
Viitetiedot
Lisää koriin
Poista korista
Saatavuustiedot
